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1. 光源与光谱发生系统
这是测量的起点，为整个系统提供宽波长范围的入射光。
光源： 通常采用高亮度、宽光谱的卤钨灯或氙灯。对于特定应用，也可能使用激光或LED阵列。光源的稳定性和光谱连续性至关重要。
单色仪/光谱仪： 在旋转分析器/补偿器型或成像型系统中，常使用单色仪将宽谱光色散，选择特定波长进行测量。而在傅里叶变换型或基于阵列探测器的系统中，则使用光谱仪同时探测多个波长。现代多采用后者，利用宽带光源配合高灵敏度阵列探测器实现快速光谱扫描。
准直与聚焦光学： 包括透镜、反射镜等，用于将光源发出的光准直成平行光束，并精确聚焦到样品表面的测量点上，确保光斑大小和入射角的可控性。
2. 偏振态发生器
负责生成一系列已知且精确可控的入射偏振态。
起偏器： 通常是一个固定的线性偏振片，将光源发出的非偏振光转换为特定方向的线偏振光，作为后续调制的基准。
可调偏振态发生元件： 这是PSG的核心，用于在起偏器产生的线偏振光基础上，通过改变其取向角和/或相位延迟，生成所需的任意偏振态（线偏、圆偏、椭圆偏）。常用技术包括：
旋转补偿器： 使用一个固定的波片（通常是四分之一波片）和一个高速旋转的补偿器（另一个波片）。
旋转起偏器/分析器： 通过旋转起偏器和/或检偏器来改变偏振方向。结构相对简单，但测量速度较慢。
光电调制器： 利用压电效应快速调制波片的相位延迟，实现高速、无移动部件的偏振态调制，但成本较高，光谱范围可能受限。
液晶可变延迟器： 通过电压控制液晶分子的取向来改变相位延迟，可实现静态、无移动部件的偏振态控制，灵活性高，但响应速度和光谱范围需优化。
3. 样品台与角度控制
样品台是光与样品发生相互作用的场所，其精度直接影响测量结果。
精密样品台： 提供稳定的平台放置样品，通常具备XYZ三维平移调节，确保测量光斑精确定位于样品特定区域。
角度控制机构： 关键的是入射角调节。通常在多个入射角下进行测量，以增加信息量，提高拟合精度。
环境控制（可选）：可能集成温控、真空或气氛控制腔室，用于研究样品在不同环境下的动态变化。
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